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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Documentation sur la chambre de diffraction des rayons X Guinier-Simon , Haute Température Enraf-nonius
Fiche N°4019| Période de fabrication : 1975-1999 | Fabricant : ENRAF-NONIUS | |
| Domaines : Chimie, Physique | Sous-domaines : Cristallographie, Chimie du solide, Cristallographie, Physique du solide | |
| Organisme : Université de Rennes | Ville : Rennes | |
| Modèle : Guinier- Simon | Matériaux : Papier |
Description
Cette documentation en français de quatre pages a été éditée par la société Enraf-Nonius. Elle présente les différents éléments de l’appareil, ses caractéristiques et performances, les opérations de maintenance ainsi que tous les systèmes de chauffage basse et haute température et leur programmation.
Utilisation
La chambre de Guinier-Simon de diffraction des rayons X servait à effectuer des études cristallographiques d’échantillon cristallin. Des études du comportement des matériaux dans ces gammes de température se révélaient très utiles notamment pour la détection de changements de phase.
Pour nous citer :
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Documentation sur la chambre de diffraction des rayons X Guinier-Simon , Haute Température Enraf-nonius (ENRAF-NONIUS), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=16037, consulté le 2026-07-28
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Documentation sur la chambre de diffraction des rayons X Guinier-Simon , Haute Température Enraf-nonius (ENRAF-NONIUS), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=16037, consulté le 2026-07-28
