| Période de fabrication : 1975-1999 | Fabricant : ENRAF-NONIUS | |
| Domaines : Chimie, Physique | Sous-domaines : Cristallographie, Chimie du solide, Cristallographie, Physique du solide | |
| Organisme : Université de Rennes | Ville : Rennes | |
| Modèle : FR 553 | Matériaux : Métal, Céramique |
Description
Ce système de chauffage d’échantillon équipait la chambre de diffraction des rayons X Guinier-Simon commercialisée par la société Enraf-Nonius dans les années 1980. Il se présente sous la forme d’un long cylindre métallique horizontal gris clair avec une extrémité rectangulaire blanche comportant des prises de connexion électrique pour alimenter l’élément chauffant. Un tube blanc en matériau réfractaire est contenu dans ce cylindre. Deux embouts métalliques peuvent recevoir des tuyaux de refroidissement par circulation d’eau. Sur une extrémité, on trouve un petit morceau de tuyau en plastique qui servait à introduire une circulation d’air ou de gaz. L’autre extrémité du cylindre supporte un thermocouple pour mesurer la température de l’échantillon.
L’ensemble est mobile et est introduit dans la chambre de rayons X dans un support conçu à cet effet.
Utilisation
L’élément chauffant construit par Enraf-Nonius permettait d’atteindre des températures de 500°C pendant une heure. Il était piloté par un programmateur du type PID (Proportionnel- Intégral- Dérivé). La chambre de Guinier-Simon de diffraction des rayons X servait à effectuer des études cristallographiques d’échantillon cristallin. Des études du comportement des matériaux dans ces gammes de température se révélaient très utiles notamment pour la détection de changements de phase.
Chambre de diffraction de rayons X Guinier-Simon, Haute Température Enraf-Nonius