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Système chauffant pour la chambre de diffraction de rayons X Guinier-Simon , Haute Température Enraf-Nonius

 Fiche N°4021
Période de fabrication : 1975-1999
 Fabricant : ENRAF-NONIUS
Domaines : Chimie, Physique
 Sous-domaines : Cristallographie, Chimie du solide, Cristallographie, Physique du solide
Organisme : Université de Rennes
 Ville : Rennes
Modèle : FR 553
 Matériaux : Métal, Céramique

Description

Ce système de chauffage d’échantillon équipait la chambre de diffraction des rayons X Guinier-Simon commercialisée par la société Enraf-Nonius dans les années 1980. Il se présente sous la forme d’un long cylindre métallique horizontal gris clair avec une extrémité rectangulaire blanche comportant des prises de connexion électrique pour alimenter l’élément chauffant. Un tube blanc en matériau réfractaire est contenu dans ce cylindre. Deux embouts métalliques peuvent recevoir des tuyaux de refroidissement par circulation d’eau. Sur une extrémité, on trouve un petit morceau de tuyau en plastique qui servait à introduire une circulation d’air ou de gaz. L’autre extrémité du cylindre supporte un thermocouple pour mesurer la température de l’échantillon.
L’ensemble est mobile et est introduit dans la chambre de rayons X dans un support conçu à cet effet.


Utilisation

L’élément chauffant construit par Enraf-Nonius permettait d’atteindre des températures de 500°C pendant une heure. Il était piloté par un programmateur du type PID (Proportionnel- Intégral- Dérivé). La chambre de Guinier-Simon de diffraction des rayons X servait à effectuer des études cristallographiques d’échantillon cristallin. Des études du comportement des matériaux dans ces gammes de température se révélaient très utiles notamment pour la détection de changements de phase.


 



LES OBJETS ASSOCIÉS

Chambre de diffraction de rayons X Guinier-Simon, Haute Température Enraf-Nonius

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