| Période de fabrication : 2000-2024 | Fabricant : Inel | |
| Domaines : Chimie, Physique | Sous-domaines : Cristallographie, Cristallographie | |
| Organisme : Université de Rouen | Ville : Mont-Saint-Aignan | |
| Modèle : 100 | Matériaux : |
Description
Cet
instrument est un diffractomètre à rayons X de la marque Inel. Ce
diffractomètre est relativement petit car conçu pour tenir sur une paillasse.
Il se présente sous la forme d’un bloc cubique doté d’une poignée sur le devant
et d’un bouton d’arrêt d’urgence. Techniquement, il est équipé d’un
système de refroidissement à eau intégré. Il est équipé d’une platine goniométrique
non-motorisée et de détecteurs courbes (appelés aussi détecteurs « bananes »)
permettant des analyses rapides.
Utilisation
Ce diffractomètre est utilisé au sein du laboratoire SMS (Sciences et Méthodes Séparatives) de l'Université de Rouen . Sa petite
taille permet d’envisager qu’il soit déplacé pour être utilisé en enseignement ultérieurement.De façon
générale, la diffraction par rayon X emploie la méthode suivante : un
faisceau de rayons X qui rencontre l’échantillon à analyser provoquant la
dispersion du faisceau lumineux dans des directions spécifiques. Par la mesure
des angles et de l'intensité des rayons réfractés, il est possible d'obtenir
une image tridimensionnelle de la densité électronique dans l’échantillon. À
partir de cette densité, la position moyenne des atomes dans l’échantillon peut
être déterminée, ainsi que leurs liaisons chimiques, leur entropie et d'autres
informations. Le fait qu’il y ait des détecteurs « bananes » sur cet appareil
permet de réaliser les mesures sous tous les angles en une seule fois.
Toutefois, cette technique pose problème lorsque l’échantillon n’est pas
cristallin