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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Diffractomètre X
Fiche N°2142| Période de fabrication : 1975-1999 | Fabricant : Philips Electronics N.V. | |
| Domaines : Physique | Sous-domaines : | |
| Organisme : Université du Maine | Ville : Le Mans | |
| Modèle : X'PERT PUV3084 | Matériaux : |
Description
Le diffractomètre X'pert PUV3084 de PHILIPS comprend une plateforme où est positionné l'échantillon à étudier. Cette plateforme peut être orientée en fonction de la face du cristal à observer. Deux bras entourent cette plateforme, ils contiennent respectivement la source de rayonnement et le détecteur. L'appareil envoie sur le cristal un faisceau de rayons X monochromatique. Les rayons X interagissent entre eux et avec les atomes du cristal. Cela induit une émission de rayons de même fréquence, c'est la diffraction X. Le détecteur tourne autour de l'échantillon et enregistre l'intensité des rayons X refractés à différentes positions.
Utilisation
Cet appareil était utilisé pour l'étude de couches minces sur silicium au Laboratoire de physique de l'état condensé à l'Université du Maine.
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Diffractomètre X (Philips Electronics N.V.), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=2578, consulté le 2026-07-22
