Retour à l'accueil de la mission PATSTEC

PRÉSERVER
SAUVEGARDER
VALORISER

Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain

Retour à l'accueil de la mission PATSTEC
Ouvrir le menu

OBJETS

Créer un pdf

Testeur aléatoire de circuits digitaux

 Fiche N°1471
Période de fabrication : -
 Fabricant : GIPSA-LAG Laboratoire d'automatique de Grenoble
Domaines : Informatique et Communication
 Sous-domaines : Ordinateurs
Organisme : ACONIT
 Ville : Grenoble
Modèle :
 Matériaux : Métal, Cuivre

Description

Le testeur aléatoire de circuits digitaux développé par le Laboratoire d'Automatique de Grenoble (LAG) se présente sous la forme d'un grand tableau de connexion à fiches encastrables et d'un pupitre de commande. Le tableau principal contient 48 séries de 28 fiches, additionnées de 24 séries de fiches annexes. Un panneau secondaire se situe à droite de la façade de connexion. Les boutons à bascule du pupitre de commande permettent de programmer la sélection des tests.
La séquence de test est pseudo-aléatoire. Pour tester un système séquentiel, il est possible soit de câbler le graphe de l'automate (qui constitue donc la référence), soit de comparer deux circuits montés sur des cartes (connecteurs en bas à droite). Pour un circuit synchrone, la machine permet le test synchrone (l'horloge joue son rôle normal) ou le test asynchrone (à chaque pas de test, une seule entrée change de valeur et l'horloge est considérée comme une entrée quelconque).


Utilisation

Le pupitre permet de choisir notamment :
1) test synchrone ou asynchrone ;
2) test avec modèle de référence ou test de fonctionnement identique (comparaison de deux circuits dont l'un est la référence) ;
3) la longueur de test à appliquer ou le test en pas à pas.
Pour un circuit séquentiel ne disposant pas d'une initialisation explicite, on peut rechercher une configuration entrées/sorties assurant que la référence et le circuit à tester sont dans le même état au début du test.
Le pupitre permet aussi d'initialiser la séquence de test, puis de visualiser le résultat (circuit correct ou défectueux et affichage des sorties éventuellement défectueuses).
Ce testeur a été utilisé par l'Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) pendant plusieurs années. Ce testeur semble avoir été la première machine au monde de ce type, d'après ses concepteurs. Conçu et fabriqué par R. Tellez-Giron entre 1970 et 1973.


 



Patrimoine Scientifique et Technique Contemporain
Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
Ministère de la Recherche CNAM
Fermer

Rechercher objet

Rechercher des objets inventoriés

FILTRES OPTIONNELS

Réseaux Sociaux