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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Microscope à électrons lents (LEEM PEEM)
Fiche N°938| Période de fabrication : 2000-2024 | Fabricant : ELMITEC | |
| Domaines : Physique | Sous-domaines : | |
| Organisme : Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille (CINaM) , Faculté des Sciences - 163 avenue de Luminy 13288 Marseille | Ville : Marseille | |
| Modèle : | Matériaux : |
Description
Le LEEM PEEM fabriqué par ELMITEC sert à observer des surfaces solides (silicium etc.). Le dispositif est composé du microscope, de chambres vide, et d’un microscope à effet tunnel. Principe scientifique de fonctionnement de l’instrument : Les électrons sont accélérés vers l’échantillon. Ensuite les électrons sont ralentis, ils interagissent avec l’échantillons, sont réfléchis, diffractés, et détectés par le détecteur. L’instrument apporte des informations sur la morphologie et la structure crystalline des surfaces des matériaux, en particulier il permet d’observer des marches atomiques. La dynamique d’acquisition d’images est de l’ordre de l’hertz, la résolution latérale de 10 nm. Il en existe 2 en France.
Utilisation
Le dispositif est utilisé pour la recherche au Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille (CINaM).
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Microscope à électrons lents (LEEM PEEM) (ELMITEC), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=30806, consulté le 2026-07-25
