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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Système de maintien d'échantillon
Fiche N°16018| Période de fabrication : - | Fabricant : Japan Electron Optics Lab. | |
| Domaines : Physique | Sous-domaines : | |
| Organisme : Manufacture Française des Pneumatiques Michelin | Ville : Clermont-Ferrand | |
| Modèle : | Matériaux : Métal, Plastique |
Description
Le système de maintien d'échantillon fabriqué par Japan Electron Optics Laboratory est constitué d'un axe métallique dont une extrémité est munie d'une poignée sphérique en plastique noir. Cet axe traverse un ensemble de deux pièces métalliques dont une servant à insérer l'objet dans un microscope électronique. L'axe se termine par un embout métallique formant un crochet à quatre branches sur lesquelles fixer un échantillon.
Le système de maintien d'échantillon est le support sur lequel positionner l'échantillon pour une observation. L'objet à observer est maintenu sur l'embout de l'axe et le système est vissé dans le microscope électronique à la place qui lui revient. La poignée permet de déplacer l'objet dans et hors du faisceau d'électrons.
Utilisation
Cet objet a été utilisé dans la Manufacture Française des Pneumatiques Michelin dans des travaux de mesure, de recherche et de développement.
Il était lié aux microscopes électroniques à transmission acquis par Michelin.
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Système de maintien d'échantillon (Japan Electron Optics Lab.), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=33876, consulté le 2026-07-22
