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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Diffractomètre à rayons X pour couches minces
Fiche N°762| Période de fabrication : 1975-1999 | Fabricant : SEIFERT | |
| Domaines : Physique | Sous-domaines : Electronique | |
| Organisme : Centre national de la recherche scientifique (CNRS) | Ville : Toulouse | |
| Modèle : XRD 3000 PTS | Matériaux : |
Description
Ce diffractomètre à rayons X pour couches minces a été fabriqué par SEIFERT, c'est un modèle XRD 3000 PTS. Le diffractomètre est un appareil permettant de mesurer la diffraction d'un rayonnement (ici des rayons X) sur une cible. La diffraction est le processus par lequel le rayonnement est dévié dans une direction bien déterminée, du fait de la structure périodique de la matière. La diffraction nécessite de la matière cristallisée (minéraux, métaux, céramiques, produits organiques cristallisés), par opposition à la matière amorphe (liquides, polymères, verres). Ce diffractomètre comprend un générateur de rayons X monochromatiques ; un détecteur ou un compteur déterminent la direction des rayons.
Utilisation
Ce diffractomètre particulier permet des études de diffraction aux grands angles et peut convenir à l’étude de textures et contraintes sur des dépôts. Mais son utilisation principale au sein du laboratoire est la réflectomètrie aux petits angles sur des couches minces. Dans ce dernier cas et exceptionnellement, il ne s’agit plus de diffraction, mais de réflexion, comme en optique.
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Diffractomètre à rayons X pour couches minces (SEIFERT), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=7342, consulté le 2026-07-25
