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Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain
OBJETS
Microscope électronique à balayage environnemental XL 30 ESEM
Fiche N°1188| Période de fabrication : 2000-2024 | Fabricant : Philips | |
| Domaines : Physique, Aérospatial | Sous-domaines : Electronique, Aéronautique | |
| Organisme : Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace - Campus ENSICA | Ville : Toulouse | |
| Modèle : XL 30 ESEM | Matériaux : |
Description
Le microscope électronique à balayage environnemental (MEBE) PHILIPS XL 30 ESEM assure l'observation directe d'échantillons. Les échantillons sont observés à l'état brut sans préparation et sans artéfacts. Grâce à ce dispositif, l'ingénieur produit des images en haute résolution de la surface d'un échantillon, il peut suivre l'évolution des matériaux dans des environnements contrôlés. Avec cet appareil, il n'est plus nécessaire, comme dans le cas du microscope électronique à balayage (MEB) classique, de traiter préalablement les échantillons. Deux PC sont dédiés au microscope : le PC qui gère le système et un PC en réseau pour le transfert des images.
Utilisation
Cet équipement est utilisé à la fois pour les activités d'enseignement et de recherche dans le cadre de collaboration industrielle sur les thèmes de caractérisation des matériaux composites et métalliques pour l'aéronautique et le spatial (observation microscopique des matériaux après endommagement, détermination des constituants des matériaux par spectrométrie X…)
Base de la Mission nationale de sauvegarde et de valorisation du patrimoine scientifique et technique contemporain, PATSTEC, Microscope électronique à balayage environnemental XL 30 ESEM (Philips), https://www.patstec.fr/ressources/objets/detail?id=7906, consulté le 2026-07-25
