Mission nationale de sauvegarde du patrimoine scientifique et technique contemporain

Description

Le microscope à force atomique AFM (pour Atomic Force Microscope) de Digital Instruments, permet des études très fines de la
topographie de surfaces conductrices ou isolantes, le principe pouvant
être comparé aux anciens disques microsillons, mais à une échelle
beaucoup plus petite allant jusqu’à la résolution atomique dans les
conditions optimales. Une pointe très dure, généralement en nitrure de silicium, est déplacée avec précision au voisinage d’une surface, grâce à des actionneurs piézoélectriques. Cette pointe est portée par un levier (cantilever) souple et l’interaction avec la surface entraîne un très léger déplacement du levier, déplacement qui est mesuré par la réflexion d’un faisceau laser frappant l’arrière de la pointe. Des dispositifs électroniques pilotent le système et assurent la collecte des résultats. La pointe peut être également utilisée comme un outil permettant, par
exemple, de déposer des matériaux ou des liquides à la manière d’un
nano-stylo plume. Le dispositif de déplacement incorporé dans le
porte-échantillon permet un nanopositionnement du dépôt sur un
nanodispositif (nanojonctions, nanoSQUID) préalablement fabriqué sur la
surface. Le présent microscope opère à l’air et à température ambiante. L’échantillon est porté sur un support incorporant une table de nanopositionnement 3 axes permettant des déplacements de 150 µm avec une répétabilité inférieure au nanomètre.

Utilisation

Ce microscope à force atomique était utilisé en recherche fondamentale en science des matériaux, physique du solide, chimie moléculaire, au Centre d’Élaboration de Matériaux et d’Etudes Structurales
(CEMES)
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